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SurtronicDUO分体式粗糙度测量仪 SurtronicDUO粗糙度仪是英国泰勒公司新型粗糙度仪，SURTRONICDUO新型粗糙度仪可测Ra，Rz两种参数。DUO具有红外接口可在距离被测物1米处进行测量。

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SurtronicS-100全新升级款泰勒粗糙度仪 新型SurtronicS-100系列仪器能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案，包括多样化的系统和应用相关配件，并且能够针对特殊应用的配件定制工装。

SurtronicDUO高精度粗糙度仪 每个组件表面都会有一些纹理形状因结构和制造方式而有所差异。这些表面可以划分为三个主要类别:粗糙度、波纹度和形状。为了控制制造过程或预测组件在使用过程中的行为，有必要使用表面纹理参数对表面特征进行量化。

英国Taylor孔内壁粗糙度测量仪器 英国泰勒霍普森TaylorHobson出产的粗糙度仪，不仅可测量物体平面的粗糙度，还可测量深孔内部的粗糙度。测量数据准确且操作便捷，友好的操作界面更是客户们的心仪产品。